반도체테스트/Circuit2 Snubber 회로 * 해당 게시글은 ROHM사의 application note를 참고해 작성했습니다. 서지 전압 Snubber 서지(Surge) 전압은 짧은 시간 내에 심한 파형의 변화를 일으키는 전압을 의미합니다.트랜지스터의 스위칭 동작에서 전압/전류가 급변할 때 인덕턴스 성분에 의해 이러한 서지 전압이 발생하게 됩니다. 위 자료에서 회로상에 실선으로 표시한 부분은 turn-on 시의 전류 경로를 나태낸 것이고,점선으로 표시한 부분은 turn-off 시에 서지에 의한 전류 경로를 나타낸 것입니다.점선의 전류 경로를 보면 서지에 의한 전류가 Cds뿐만 아니라 Cgd, Cgs를 경유하여 흐르기 때문에 Vgs 전압에도 예기치 못한 서지를 발생시킬 수 있습니다. 이렇게 발생한 서지 전압은 회로/소자에 데미지를 야기할 수 있.. 2024. 6. 14. Inductive Load Test (Feat.환류 다이오드) Clamping과 Clipper MOSFET과 같은 Discrete 소자의 스위칭 테스트에는 clamped 테스트와 unclamped 테스트가 있습니다.우선 전자회로 분야에서 사용되는 비슷한 용어들 먼저 정리해보겠습니다. Clamping 회로전자용어사전에서는 clamping의 의미를 아래와 같이 정의하고 있습니다. AC 입력 전원을 일정 DC level로 올리거나(positive) 내리는(negative) 역할을 하는 회로를 clamping 회로라고 합니다.아래는 positive 클램프 회로와 실제 출력 파형입니다.* 참고로 아래와 동일한 입력 전원에 대해 다이오드의 방향이 반대인 경우 negetive 클램프 회로 Clipper클리퍼 회로는 말그대로 입력에 대한 출력을 제한하는 회로입니다. 다이오드에.. 2024. 6. 13. 이전 1 다음